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日本電子(株) | 論文
- ディフラクトグラムによる TEM オートチューニング
- マルチスライス法入門
- オージェ電子絶対測定用CMA (VAMASタイプ) の作製 : CMA内の漏れ磁場補正方式の検討
- オージエ電子利得の絶対測定 (I) : CMAの設計
- STMで用いる試料温度の測定
- STMで用いる直接通電加熱
- ESRを用いたラジカル測定
- オージェ電子分光による化学状態分析の現状
- 遠焦点電子ビーム集束を用いた微小焦点X線装置とその応用
- X線光電子スペクトルによる材料表面の化学状態解析に関する研究
- β型Ti合金に生成する時効ω相の微細構造
- 生物試料の生の状態の電子顕微鏡的研究 : 走査型電子顕微鏡による凍結試料の直接観察
- 1.走査型電子顕微鏡による凍結試料の直接観察(昭和48年度第19回凍結及び乾操研究会発表論文並びに討論要旨)
- SEMの測定原理と触媒の観察
- 環境汚染物質の分析におけるGC/MS技術
- 赤外線応力画像システムによる応力測定
- W5-4 専用型電子位相顕微鏡装置の開発(電子位相顕微鏡法の展開,ワークショップ5,第44回日本組織細胞化学会 第35回日本臨床電子顕微鏡学会 合同学術集会)
- 5-5 サーモビュアMCについて(日本医用サーモグラフィ研究会)
- 20. 「サーモビュアMB」について(第5回 日本医用サーモグラフィ研究会記録(II))
- 最近の透過電子顕微鏡の進歩