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日本電子(株) | 論文
- 電子顕微鏡における同調薄層機構による床振動の相殺補償
- 12p-R-14 ペニング電離の電子分光法による研究 I. He^+Ar, Xe, N_2
- 画像記録・処理装置
- 粒子の形態分析 2. 粒子形状分析 : 2. 3 透過電子顕微鏡
- (1) IP の電子顕微鏡への応用(主題 : 素材とそのプロセシングの新しい解析技術)(素材工学研究所第 3 回研究懇談会)(素材工学研究会記事)
- 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 7a-D-1 透過型電顕によるウランおよびトリウム原子の像
- 24pG-3 基底一重項系磁性体RbFeCl_3,の^Rb核磁気緩和
- 28a-YH-8 単イオン基底-重項系CsFeCl_3交差磁場における秩序状態のNMR
- ガラス薄膜の深さ方向分析
- 三波川ざくろ石の元素カラーマップ・フォト(フォト)
- 分析電子顕微鏡
- AES/XPS定性分析ソフトウェアの開発とその応用
- 25aPS-64 高感度NMR信号検出を目指した高温超伝導薄材コイルの開発I(25aPS-3 領域3ポスターセッション,領域3(磁性,磁気共鳴))
- 走査型電子顕微鏡における振動モードシェイピングによる像ノイズの低減
- 高精度エッチング機能付きFE-SEMによる半導体デバイス故障解析 (デバイス評価の最前線)
- 電子顕微鏡で捉えたSiの新しい2次欠陥構造
- 3-6 イモゴライトの高倍率電子顕微鏡写真(3.土壤鉱物および膠質複合体)
- イモゴライトの電子線, X線回折図について
- イモゴライトの高倍率電子顕微鏡写真
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