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技術研究組合超先端電子技術開発機構 | 論文
- B-5-67 RF-MEMSを使用したチューナブルLNAモジュール(B-5.無線通信システムA(移動通信),一般セッション)
- B-1-134 MEMSスイッチを搭載した端末用周波数可変アンテナ(B-1.アンテナ・伝播B(アンテナ一般),一般セッション)
- 3次元積層モジュールにおける熱設計(:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)
- 3次元積層モジュールにおける熱設計(:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)
- 3次元実装に用いる高アスペクト比貫通電極の銅穴埋めめっき
- B-4-20 近傍電界プローブ校正方法についての一検討(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- ArFエキシマレーザーによる半導体微細加工技術
- KrFの限界とArF実用化の課題
- ArFリソグラフィー技術の現状と今後の展望
- ArFリソグラフィー技術の現状と課題
- 複数電源-グラウンド層対をもつ多層プリント板からの不要電磁放射低減の検討(研究速報)
- トレースと基準面間に導体面があるプリント板からの輻射と抑制に関する一検討(研究速報)
- 電源層を遮へいする層構造による多層プリント板からの不要電磁放射の低減(EMC対策技術)(最新のEMC技術論文特集)
- 複数電源-グラウンド層対を持つ多層プリント板からの不要電磁放射低減
- B-4-55 多層プリント板の電源-グラウンド層を貫通するビア配線と不要輻射との関連
- 多層プリント板の電源系プレーンに接続されるビア配線による不要輻射発生メカニズム(研究速報)
- 半導体集積回路分野
- ArFエキシマレーザ・リソグラフィの最近の動向と課題
- B-4-69 光ファイバ端磁気光学プローブによる微細配線上の磁界分布計測
- 磁気光学プローブによるテストLSIパッケージ周辺ピン上の1D磁界分布測定