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成蹊大学工学部物理情報工学科 | 論文
- TOF-SIMSによるUV照射したフォトレジスト表面の化学構造変化の評価
- ガラス基板上のタンパク質分布に関するTOF-SIMSイメージング評価法
- Cu-CMPプロセスにおける有機酸と反応したCu膜表面の状態解析
- TOF-SIMSによるバイオセンサ基板上のタンパク質分布の評価
- 最適入射角度の低速酸素イオンを用いたSIMS によるボロンのゲート酸化膜突き抜け現象の解析
- 機能性材料表面構造解析装置の特性評価とバイオ材料解析への応用
- 試料冷却機構を備えたTOF-SIMS装置による揮発性物質の高感度測定法の研究
- タンパク質のin situ測定に適した蛍光免疫センサの開発
- バイオ関連評価におけるTOF-SIMSの可能性
- 最適化された低エネルギー一次イオン照射下におけるTOF-SIMSサンプリング深さの極浅化
- フロートプロセスにおけるガラスへの錫拡散機構
- フロートガラスにおける表面組成変化の機構と機械的特性への影響
- 第29回表面科学基礎講座-表面・界面分析の基礎と応用-
- スタティックSIMS法の基礎と応用
- ガラス表面のキャラクタリゼーション(II) -ガラス表面にコーティングした薄膜の特性支配因子の解析-
- ガラス表面のキャラクタリゼーション(I) -ガラス表面における諸現象の発現機構-
- やさしいニューガラス講座 ガラス表面のコンタミネーションコントロール
- ガラスにおける表面特性発現メカニズムとその制御に関するキャラクタリゼーション
- フロートガラスの吸着性及び化学修飾性支配因子
- 試料冷却法を用いたSIMS測定におけるSi酸化膜中Naの挙動