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宮崎大学工学部材料物理工学科 | 論文
- シリコン中の酸素析出物と観察
- Kα2重線を用いた格子定数の精密測定法
- レ-ザ照射による損傷 (樋口正一博士記念号)
- 10p-J-5 レーザ照射により生成した転位のX線トポグラフ
- 12a-K-7 劈開クラック先端のX線トポグラフII(LiF)
- 11p-T-4 蛍光X線を利用した疑コッセル線
- シリコン(Si)表面に形成されたDenuded Zone境界の格子定数の変化
- 3-224 新入生が最初に出会う講義の効果的な企画 : あたらしい試みの実践的検討((1)基礎科目の講義・演習-III)
- 化学的気相成長法窒化膜によるSi結晶中の格子欠陥の研究
- X線回折法による不純物拡散シリコン結晶の格子歪の解析
- シリコン結晶中の酸素析出に伴う格子欠陥の観察
- ビッカーズ硬度試験による金属の引張特性評価法
- X線回析による非晶質合金(Ni_81P_19)の動的結晶化過程の解析
- 床面に設置された有限正方角柱上面の流れのPIV解析
- マチファン型風洞を利用して発生した擬似格子乱流の間欠性
- 微小角入射X線トポグラフィによる(100)Si表面の格子歪の観察と評価
- 全反射臨界角近傍でのX線回折法によるシリコン結晶中の微小格子歪の観察・評価
- 黒鉛-ブロム系のHall効果I : 半導体 : 輸送
- 8a-S-12 圧電素子-光音響分光法(P-PAS)を用いた, シリコンの熱処理に伴うサーマルドナー形成の評価
- Am-Be線源を使用した中性子照射装置