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奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest | 論文
- ホールドとスイッチの機能を考慮した内部平衡構造
- レジスタ転送レベル回路に対する連続透明化設計法(ディペンダブルコンピューティング)
- システムオンチップのインターコネクトに対する2パターン可検査化設計(ディペンダブルソフトウェアとネットワーク及び一般)
- 消費電力を考慮した連続可検査性に基づくシステムオンチップの面積オーバヘッドとテスト実行時間の相互最適化(VLSI設計とテスト)
- 単一故障仮定のもとで組合せテスト生成複雑度をもつ順序回路にクラス
- 階層BIST : 低いオーバヘッドを実現するTest-per-clock方式BIST(フォールトトレランス)
- 階層BIST : 低オーバヘッドを実現するTest-per-clock BIST
- 階層BIST : 低オーバヘッドを実現するTest-per-clock BIST
- 階層BIST : 低オーバヘッドを実現するTest-per-clock BIST
- レジスタ転送レベル回路に対するテストプラン埋め込み型テスト容易化設計法
- コントローラの機能を利用したデータパスのテスト容易化設計
- SD-2-11 上流からのテスト容易化設計
- SD-2-10 完全スキャン設計と等価な部分スキャン設計
- フィールドにおける劣化検知のための動的テストスケジューリング(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- ディペンダブルなVLSIとテスト(LSI品質の保証のための提案)
- アドホックネットワークにおけるクラスタ構成法
- 単一故障仮定のもとで組合せテスト生成複雑度をもつ順序回路のクラス
- 連続可検査性に基づくシステムオンチップの面積オーバヘッドとテスト実行時間の相互最適化
- アドホックネットワークにおけるクラスタ構成法
- テスト容易性を考慮したVLSI高位合成 : サーベイと今後の動向