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名大エコ研 | 論文
- 21pGP-7 SiC上グラフェンの結晶学的特徴(21pGP グラフェン(成長と評価),領域7(分子性固体・有機導体))
- 21aHS-8 電子回折顕微法の再生結果に及ぼす量子ノイズの影響(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- SiC表面分解法により生成するグラフェン/SiC界面の構造
- 26aYK-2 収差補正TEMによる3C-SiC/Si(100)界面の原子配列精密解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 27pYE-1 SiC上グラフェンの高分解能透過型電子顕微鏡観察(グラフェン電子物性(形成と評価),領域7,分子性固体・有機導体)
- 27pRE-9 収差補正TEM/STEMを用いたLa_2O_3/Si界面ラフネスの精密解析(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 24pPSA-45 極薄Si酸化膜上にエピタシャル成長したFe_3Siナノドットの構造評価(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 25aYH-3 HRTEMおよびHAADF-STEMによるβ-FeSi_2ナノドットの微細構造評価(25aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 21aPS-71 極薄Si酸化膜上に成長したFe-Siナノドットの構造評価(II)(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 15aPS-4 極薄 Si 酸化膜上に成長した Fe-Si ナノドットの構造評価(領域 9)
- 23pTC-12 球面収差補正TEM・ナノ電子回折を用いた金属ガラスの局所構造解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 2305 SiC表面分解法による高配向カーボンナノチューブ膜の界面強度(要旨講演,一般セッション:マイクロナノ理工学)
- SiC表面分解法によるグラフェンの透過型電子顕微鏡観察(グラフェンの成長と応用)
- 22aPS-16 Fe基ホイスラー型合金のバルク電子構造(22aPS 領域5ポスターセッション,領域5(光物性))
- 28aYH-3 SiC表面分解グラフェンにおける界面の構造(28aYH 領域7,領域9合同 グラフェン構造・表面物性,領域7(分子性固体・有機導体))
- 23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 27pRE-11 収差補正STEMを用いた非晶質カーボン膜中白金原子の運動の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-10 収差補正TEM像における焦点基準位置の検討(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-4 電子回折顕微法によるサブオングストローム分解能観察の可能性(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27aYH-7 UHV in-situ TEMによる極薄Si酸化膜付Si基板上に成長するGeナノドットの歪み評価-II(結晶成長,領域9,表面・界面,結晶成長)
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