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千葉大院工 | 論文
- 20aHT-7 陽電子プローブマイクロアナライザーによる延伸鉄試料の欠陥評価(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 20aHT-6 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した鉄-銅合金の欠陥分布計測(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 27aRE-7 陽電子プローブマイクロアナライザーを用いた高分子中の陽電子寿命測定(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 23pVE-10 陽電子プローブマイクロアナライザーによる欠陥分布の観察(23pVE 格子欠陥・ナノ構造(光物性・微粒子・水素・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 23aZF-7 TMU E-ringを用いた炭素負イオンクラスターの準安定状態の寿命測定(23aZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 28pYK-7 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した鉄系試料の欠陥分布計測(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 29pRB-4 RIを陽電子源とした陽電子プローブマイクロアナライザーによる空孔二次元分布計測(29pRB 格子欠陥・ナノ構造(金属・陽電子・水素・炭素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 「陽電子の分子への付着過程:PET(陽電子断層撮影法)の基礎として」に対するコメント(会員の声)
- 30pXN-2 静電型イオン蓄積リングの開発III : イオン入射系および中性粒子検出系(原子・分子)(領域1)
- 21aTE-1 静電型イオン蓄積リングの開発 I : 概要
- 水溶液中の相分離誘起を利用したドデシル硫酸ナトリウム共存下におけるシリカゲルのマクロ孔形成(水溶液科学に立脚したセラミックス合成プロセス)
- 一方向性SAW変換器を帰還素子に用いた発振回路に関する検討 : 液体搬送への適用
- 22pTD-5 透明電極材料ZnO及びAlドープZnOの局所構造歪みと電子状態(格子欠陥・ナノ構造(金属・半導体),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 31pXE-7 極低温ヘリウム中における分子イオンの移動度 IV
- 8p-S-9 陽電子消滅法による石英ガラス、メタミクトガラス、結晶石英の構造と照射欠陥の研究
- B156 95GHzミリ波雲レーダFALCONの性能と将来展望(§2 新たな動き-開発・運用・データ処理技術-,可搬型気象レーダーの現状と将来展望-小規模じょう乱から気候変動の観測まで-,専門分科会)
- A453 「みらい」搭載ミリ波雲レーダによる北極海および太平洋での雲観測(雲・エアロゾルの新しい地球環境監視システム,専門分科会)
- 27aRE-10 透過型陽電子顕微鏡における像質改善の取組(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 21pWA-8 透過型陽電子顕微鏡を用いた像観察(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 22pRF-5 TMU E-ringを用いた負イオンの蓄積実験(原子・分子,領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
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