宮本 和俊 | 三菱電機(株) 北伊丹製作所 品質保証部

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概要

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• 三菱電機(株) 北伊丹製作所 品質保証部の論文著者

関連著者

• 宮本 和俊

  三菱電機(株) 北伊丹製作所 品質保証部

• 石井 達也

  三菱電機(株) 北伊丹製作所 品質保証部

• 内藤 健作

  多田電機(株) 半導体工場 半導体試験部

• 石井 達也

  三菱電機(株)半導体基盤技術統括部

• 宮本 和俊

  三菱電機(株)北伊丹製作所システムlsi開発部

• 小山 健

  徳島文理大学大学院工学研究科

• 宮本 和俊

  株式会社ルネサステクノロジ品質保証統括部

• 宇廻 功二

  多田電機(株) 半導体工場 半導体試験部

• 石井 達也

  三菱電機北伊丹製作所

• 宮本 和俊

  三菱電機北伊丹製作所

• 石井 達也

  日立製作所デバイス開発センタ

• 村松 菊男

  三菱電機(株)北伊丹製作所システムlsi開発部

• 内藤 健作

  多田電機

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著作論文

• 1B-2 発光解析を用いたVLSIファンクション不良解析技術
• VLSIテスタと接続したエミッション顕微鏡によるメモリLSIの故障検出率の向上
• ファジィ推論による寿命予測
• カーエレクトロニクスとマイクロコンピュータ

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