Arimoto Hiroshi | FUJITSU LIMITED. 50 Fuchigami, Akiruno, Tokyo 197-0833, Japan

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概要

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関連著者

• AOYAMA Takayuki

  Fujitsu Laboratories Lid.

• FUKUTOME Hidenobu

  Fujitsu Laboratories Ltd.

• Arimoto Hiroshi

  Fujitsu Laboratories Limited

• Aoyama Takayuki

  FUJITSU LABORATORIES LTD. 50 Fuchigami, Akiruno, Tokyo 197-0833, Japan

• Fukutome Hidenobu

  FUJITSU LABORATORIES LTD. 50 Fuchigami, Akiruno, Tokyo 197-0833, Japan

• Arimoto Hiroshi

  FUJITSU LIMITED. 50 Fuchigami, Akiruno, Tokyo 197-0833, Japan

著作論文

• Study of Gate Length Dependence of Two-dimensional Carrier Profile in N-FET by Scanning Tunneling Microscopy

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