Takahisa Keiji | Osaka University, 10-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan

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概要

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• 同名の論文著者
• Osaka University, 10-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japanの論文著者

関連著者

• TOSAKA Yoshiharu

  Fujitsu Laboratories Ltd.

• MATSUYAMA Hideya

  FUJITSU LSI Quality Assurance Div.

• UEMURA Taiki

  Fujitsu Laboratories Ltd.

• Takahisa Keiji

  Osaka University, 10-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan

• Fukuda Mitsuhiro

  Osaka University, 10-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan

• Hatanaka Kichiji

  Osaka University, 10-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, Japan

• Tosaka Yoshiharu

  Fujitsu Microelectronics Ltd., 1500 Mizono, Tado, Kuwana, Mie 511-0192, Japan

著作論文

• Robust Flip-Flop Circuit against Soft Errors for Combinational and Sequential Logic Circuits

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