大竹 哲史 | 大分大学
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概要
関連著者
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大竹 哲史
大分大学
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中島 康彦
奈良先端科学技術大学院大学
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村田 絵理
奈良先端科学技術大学院大学
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大竹 哲史
大分大学:科学技術振興機構crest
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中島 康彦
富士通(株)
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内田 行紀
奈良先端科学技術大学院大学
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梶原 誠司
九州工業大学
著作論文
- 組込み自己テストにおける温度均一化制御(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- 組込み自己テストにおける温度均一化制御(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- 同期式設計から変換されたQDI回路のテスト生成法(テスト生成・レスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般)
- 組込み自己テストにおける温度均一化制御
- 同期式設計から変換されたQDI回路のテスト生成法
- 組込み自己テストにおける温度均一化制御
- 10.4 フィールドテストデータの蓄積とその活用(第10章:将来の課題,ディペンダブルVLSIシステム)