Mori Hiroko | Fujitsu Microelectronics Ltd., 10-1 Morinosato-Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243-0197, Japan

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概要

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• Fujitsu Microelectronics Ltd., 10-1 Morinosato-Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243-0197, Japanの論文著者

関連著者

• MORI Hiroko

  FUJITSU LSI Quality Assurance Div.

• MATSUYAMA Hideya

  FUJITSU LSI Quality Assurance Div.

• Watanabe Satoru

  Fujita Health University

• Mori Hiroko

  Fujitsu Microelectronics Ltd., 10-1 Morinosato-Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243-0197, Japan

• Matsuyama Hideya

  Fujitsu Microelectronics Ltd., 10-1 Morinosato-Wakamiya, Atsugi, Kanagawa 243-0197, Japan

著作論文

• Generation of a New Interface State Associated with Ultrathin Gate Dielectrics/Silicon under Electric Stress

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