樋口 久幸 | 日立中研
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概要
関連著者
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樋口 久幸
日立中研
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牧 道義
日立中研
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田村 一二三
日立中研
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鈴木 誠
日立製作所中央研究所
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鈴木 誠
日立製作所 中央研究所
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樋口 久幸
日立製作所中央研究所
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鈴木 誠
日立 中研
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橘 大
日立 中研
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木村 博一
日立中研
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飯島 晋平
日立中研
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高野 幸男
日立中研
著作論文
- 走査型電子顕微鏡による半導体の観察 : 電子ビームとその応用シンポジウム
- 高注入効果をとり入れたBi-CMOS回路の動作解析
- サブミクロンBiCMOS,CMOS,バイポ-ラECL論理回路の遅延時間の解析
- p形MOSFETとnpnトランジスタを同一Nウェル内に形成したN+埋込層給電形Bi-CMOS論理回路の検討
- 超高速バイポ-ラLSI用外周エミッタ形シリコントランジスタ構造の提案と検討
- ポリシリコンの選択エッチングによる自己整合サブミクロンバイポ-ラトランジスタ
- 3p-E-1 Si中への酸素の拡張による格子歪の測定
- 電子線によるシリコン中の格子欠陥の観察(I) : 格子欠陥
- 走査型電子顕微鏡による半導体素子の直接観察II : 半導体 : 測定法