大山 泰生 | 豊橋技術科学大学
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概要
関連著者
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大山 泰生
豊橋技術科学大学
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澤田 和明
豊橋技術科学大学
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石田 誠
豊橋技術科学大学
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高橋 一浩
豊橋技術科学大学
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三澤 宣雄
豊橋技術科学大学
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奥村 弘一
豊橋技術科学大学
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小澤 遼
豊橋技術科学大学
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二川 雅登
豊橋技術科学大学
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Sawada K
Shizuoka Univ. Hamamatsu
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太斎 文博
豊橋技術科学大学
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澤田 和明
豊橋技術科学大学電気・電子工学系
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澤田 和明
Intelligent Sensing System Research Centor Toyohashi University Of Technology
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澤田 和明
豊橋技科大
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Ishida M
Intelligent Sensing System Research Centor Toyohashi University Of Technology
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Ishida M
Univ. Tsukuba Tsukuba Jpn
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三澤 宣雄
総合研究大学院大学
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奥村 弘一
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系
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高橋 一浩
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系:JST-CREST
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太齋 文博
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系
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澤田 和明
豊橋技術科学大学 電気・電子情報工学系
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手老 龍吾
豊橋技術科学大学 エレクトロニクス先端融合研究所
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二川 雅登
豊橋技術科学大学 テーラーメイド・バトンゾーン教育推進本部
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手老 龍吾
豊橋技術科学大学
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澤田 和明
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系:豊橋技術科学大学エレクトロニクス先端融合研究所:JST-CREST
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石田 誠
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系:豊橋技術科学大学エレクトロニクス先端融合研究所
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大山 泰生
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系
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澤田 和明
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系:JST-CREST:豊橋技術科学大学エレクトロニクス先端融合研究所
-
二川 雅登
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系
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高橋 一浩
豊橋技術科学大学 電気・電子情報工学系
著作論文
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出 (電子デバイス)
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出 (電子部品・材料)
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出 (シリコン材料・デバイス)
- 基板上にパターン化された脂質二重膜からのベシクル形成
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出(センサ,結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出(センサ,結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出(センサ,結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- CMOS-MEMS技術を用いたファブリ・ペロー干渉計による非標識タンパク質センサ(固体撮像技術および一般〜IEDM, SPIE EI, ISSCC特集〜)
- CMOSイメージセンサ技術を用いたファブリペロー干渉計による非標識バイオセンサ(結晶成長、評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- CMOSイメージセンサ技術を用いたファブリペロー干渉計による非標識バイオセンサ(結晶成長、評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- CMOSイメージセンサ技術を用いたファブリペロー干渉計による非標識バイオセンサ(結晶成長、評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた高感度表面応力センサによる非標識タンパク質検出
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出
- CMOS-MEMS技術を用いたファブリ・ペロー干渉計による非標識タンパク質センサ