太斎 文博 | 豊橋技術科学大学
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概要
関連著者
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澤田 和明
豊橋技術科学大学
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太斎 文博
豊橋技術科学大学
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石田 誠
豊橋技術科学大学
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高橋 一浩
豊橋技術科学大学
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二川 雅登
豊橋技術科学大学
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大山 泰生
豊橋技術科学大学
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小澤 遼
豊橋技術科学大学
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Sawada K
Shizuoka Univ. Hamamatsu
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太齋 文博
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系
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澤田 和明
豊橋技術科学大学電気・電子工学系
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澤田 和明
Intelligent Sensing System Research Centor Toyohashi University Of Technology
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澤田 和明
豊橋技科大
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Ishida M
Intelligent Sensing System Research Centor Toyohashi University Of Technology
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Ishida M
Univ. Tsukuba Tsukuba Jpn
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中澤 寛一
豊橋技術科学大学電気・電子工学系
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服部 敏明
豊橋技術科学大学分析計測センター
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Ishida Masayoshi
Institute Of Engineering Mechanics And Systems University Of Tsukuba
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Ishida M
Institute Of Applied Physics Crest Japan Science And Technology Corporation University Of Tsukuba
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石田 誠
豊橋技術科学大学 電気・電子情報工学系
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二川 雅登
豊橋技術科学大学 テーラーメイド・バトンゾーン教育推進本部
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中澤 寛一
豊橋技術科学大学:日本学術振興会
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渡邉 博人
豊橋技術科学大学
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石田 誠
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系:豊橋技術科学大学エレクトロニクス先端融合研究所
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服部 敏明
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系:JST-CREST
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太齋 文博
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系:JST-CREST
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澤田 和明
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系:JST-CREST:豊橋技術科学大学エレクトロニクス先端融合研究所
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二川 雅登
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系
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服部 敏明
豊橋技術科学大学 電気・電子情報工学系
著作論文
- 電子・正孔蓄積技術を用いた情報センシングの提案 : イオン・光マルチモーダルセンサへの応用(2011 International Image Sensor Workshop(IISW)関連およびイメージセンサ一般)
- CMOS-MEMS技術を用いたファブリ・ペロー干渉計による非標識タンパク質センサ(固体撮像技術および一般〜IEDM, SPIE EI, ISSCC特集〜)
- 3.バイオイメージセンサ(新たな応用分野を切り拓くセンサ・カメラ技術)
- CMOSイメージセンサ技術を用いたファブリペロー干渉計による非標識バイオセンサ(結晶成長、評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- CMOSイメージセンサ技術を用いたファブリペロー干渉計による非標識バイオセンサ(結晶成長、評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- CMOSイメージセンサ技術を用いたファブリペロー干渉計による非標識バイオセンサ(結晶成長、評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- CMOS-MEMS技術を用いたファブリ・ペロー干渉計による非標識タンパク質センサ