高島 克巳 | 鳥取大工
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
高島 克巳
鳥取大工
-
高島 克己
鳥取大工
-
西守 克己
鳥取大工
-
徳高 平蔵
鳥取大工
-
石原 永伯
鳥取大学工学部電気電子工学科
-
石原 永伯
鳥取大学大学院工学研究科
-
石原 永伯
鳥取大学工学部
-
西守 克己
鳥取大 大学院
-
西守 克己
鳥取大 工
-
高島 克己
鳥取大 工
-
石原 永伯
鳥取大工
-
徳高 平藏
鳥取大 工
-
田中 章人
鳥取大学工学部電気電子工学科
-
西守 克己
鳥取大学工学部
-
角 博文
ソニー
-
角 博文
ソニー(株)セミコンダクターカンパニー
-
角 博文
ソニー株式会社
-
田中 章人
鳥取大工
-
林 裕己
鳥取大工
-
石原 永伯
鳥取大 工
-
角 博文
ソニー株式会社scnイメージングデバイスカンパニー
-
角 博文
鳥取大工学部
-
西守 克己
鳥取大工学部
-
徳高 平蔵
鳥取大工学部
-
石原 永伯
鳥取大工学部
-
高島 克己
鳥取大工学部
-
徳高 平蔵
鳥取大学工学部
-
関 利徳
鳥取大工
-
徳高 平蔵
鳥取大 工
-
増田 雅司
鳥取大工
-
徳島 平藏
鳥取大工
-
高島 克己
鳥取大学工学部電子工学科
-
高島 克己
鳥取大学工学部
著作論文
- 2p-NM-5 AES法による非破壊深さ方向表面組成分析法(シリサイド表面への応用)
- 3a-E-1 DAPS法による金属表面の観察及び他の分光法との比較
- 12p-Y-10 オージェ電子分光法の定量化(電子の平均自由工程について)
- 12p-Y-3 AESおよびDAPS法によるSi蒸着薄膜と金属の初期界面反応
- 12p-Y-2 全自動化AES法による薄膜の初期成長(Ag/Si系への応用)
- 24a-N-5 KCl, MgOのN(E)曲線のelastic peakとLEED, I-V曲線との対応
- 1p-A-10 AES法による非破壊深さ方向表面組成分析法(シリサイド表面への応用)III
- 30a-A-2 BaおよびU金属表面のしきい値分光低域(〜100eV)スペクトル
- 4p-NM-9 しきい値分光法による低エネルギー域(〜100eV)Ba,Laスペクトル
- 30acJ-5 AES法による非破壊深さ方向表面組織分析法
- オージェ電子分光法の定量化の話題
- 固体表面分析用Disappearance Potential Spectroscopy(DAPS)法
- オージェ電子分光 (AES) 法による薄膜成長の観察 (理論的考察)