福田 幸夫 | 諏訪東京理科大学システム工学部
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概要
関連著者
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岩崎 拓郎
弘前大学大学院理工学研究科
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福田 幸夫
諏訪東京理科大学システム工学部
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岡本 浩
弘前大学大学院 理工学研究科
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岡本 浩
弘前大学大学院理工学研究科
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小野 俊郎
弘前大学大学院理工学研究科
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鈴木 聡一郎
弘前大学大学院理工学研究科
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佐藤 真哉
弘前大学大学院理工学研究科
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福田 幸夫
諏訪東京理科大学
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小野 俊郎
諏訪東京理科大学
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佐藤 真哉
弘前大学
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成田 英史
弘前大学
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王谷 洋平
諏訪東京理科大学
著作論文
- ECRプラズマ法によって作製したGe-MIS構造のDLTSとC-t測定による評価
- 低温と室温におけるコンダクタンス法の組み合わせによるGe-MIS構造の界面準位密度評価
- ECRプラズマ法によって作製したGe-MIS構造における界面近傍トラップのDLTS評価