木下 豊彦 | (財)高輝度光科学研究センター

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• 木下 豊彦

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  東京大学物性研究所

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• 原沢 あゆみ

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  財団法人高輝度光科学研究センター

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• 長谷川 幸雄

  東京大学物性研究所

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著作論文

• 26pXA-4 軟X線領域における水吸着Si(OOl)表面からのSi 2p 光電子脱出深度の測定(光電子分光(表面・薄膜・低次元物質II),領域5,光物性)
• 放射光を用いた磁気状態観察 : 磁気2色性・光電子顕微鏡
• The 5th International Conference on LEEM/PEEM
• 放射光光電子顕微鏡による表面・界面の磁性研究
• 放射光励起走査トンネル顕微鏡の開発
• 25pRC-9 まとめ : 軟X線スペクトロスコピーからの期待とコメント(25pRC 領域5,領域8,領域10合同シンポジウム:硬X線を利用したスペクトロスコピーによる電子状態研究の進展と将来展望,領域5(光物性))
• 25pRC-9 まとめ : 軟X線スペクトロスコピーからの期待とコメント(25pRC 領域5,領域8,領域10合同シンポジウム:硬X線を利用したスペクトロスコピーによる電子状態研究の進展と将来展望,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))

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