小野寺 啓 | 芝浦工業大学システム工学部
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概要
関連著者
著作論文
- AlGaN/GaN HEMTにおけるバッファ層に起因した電流コラプスに与える裏面電極とゲートフィールドプレートの影響の2次元解析(化合物半導体IC及び超高速・超高周波デバイス/一般)
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- C-10-1 ゲート及びソースフィールドプレートAlGaN/GaN HEMTのラグや電流コラプスの類似性(C-10.電子デバイス,一般セッション)
- 微細AlGaN/GaN HEMTの耐圧特性に与えるバッファ層内不純物とフィールドプレートの影響の解析(化合物半導体デバイス及び超高周波デバイス/一般)
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- 微細AlGaN/GaN HEMTの耐圧特性に与えるバッファ層内不純物とフィールドプレートの影響の解析
- 微細AlGaN/GaN HEMTの耐圧特性に与えるバッファ層内不純物とフィールドプレートの影響の解析
- ソースフィールドプレート構造AlGaN/GaN HEMTのラグ現象,電流コラプス及び耐圧特性の解析(化合物半導体テバイス及び超高周波テバイス/マイクロ波一般)