真田 克 | NEC分析評価センター

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概要

• 同名の論文著者
• NEC分析評価センターの論文著者

関連著者

• 真田 克

  Necデバイス分析評価技術センター

• 真田 克

  NEC分析評価センター

著作論文

• Iddq異常テストベクタと論理情報を用いた単一故障を有するCMOSLSIの故障診断方式
• Iddq異常現象を用いた、CAD利用によるCMOS論理回路の故障診断方式

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