笹木 宣良 | Necデバイス評価技術研究所

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概要

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関連著者

• 笹木 宣良

  Necデバイス評価技術研究所

• 廣沢 一郎

  Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)

• 広沢 一郎

  NEC

• 広沢 一郎

  高輝度光科学研究センター

• 広沢 一郎

  Nec分析評価センター

• 広沢 一郎

  Jasri

• 廣沢 一郎

  高輝度光科学研究センター(spring-8)

• 廣沢 一郎

  (財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学研究センター

• 広沢 一郎

  Necデバイス評価技術研究所

• 笹木 宣良

  NEC・デバイス評価技術研究所

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著作論文

• ラビングしたポリイミド膜のイミド化率と分子配向がネマティック液晶のプレティルト角に与える影響
• PCb06 イオンのドリフトによるフリッカーの特徴
• 3-1b 残留DCによる電圧保持率と透過率の時間変化
• 3-1a 電圧保持率のシミュレーション

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