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清水 啓次 | NECデバイス評価技術研究所
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概要
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同名の論文著者
NECデバイス評価技術研究所の論文著者
関連著者
酒井 朗
Nec基礎研究所
井手 隆
NECデバイス評価技術研究所
清水 啓次
NECデバイス評価技術研究所
著作論文
28a-YM-2 Si(001)表面上のGeエピタキシャル成長膜の格子歪み
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