井手 隆 | NECデバイス評価技術研究所

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概要

• 同名の論文著者
• NECデバイス評価技術研究所の論文著者

関連著者

• 酒井 朗

  Nec基礎研究所

• 井手 隆

  NECデバイス評価技術研究所

• 清水 啓次

  NECデバイス評価技術研究所

著作論文

• 28a-YM-2 Si(001)表面上のGeエピタキシャル成長膜の格子歪み

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