祖父尼 俊雄 | (株)ビー・エム・エル安全性試験部
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概要
関連著者
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関 博
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
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祖父尼 俊雄
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
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関 博
(株)BML、安全性試験部
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祖父尼 俊雄
(株)BML、安全性試験部
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高見 聡
株式会社ビー・エム・エル
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高見 聡
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
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奈良部 安
(株)ビー・エム・エル総合研究所
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荒井 信貴
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
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関 博
(株)ビー・エム・エル第二検査部安全性試験課
著作論文
- P-038 培養細胞に用いる染色体異常試験における回復時間の影響について(パート2)(ポスターセッション)
- P-023 培養細胞を用いる染色体異常試験における回復時間の影響について(パート3,安全・安心のための知的ネットワークの構築:分子生物学的からレギュラトリーサイエンスまで)(ポスターセッション,安全・安心のための知的ネットワークの構築:分子生物学的からレギュラトリーサイエンスまで)
- P-060 培養細胞を用いる染色体異常試験における回復時間の影響について(パート4)(ポスターセッション)