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荒井 信貴 | (株)ビー・エム・エル安全性試験部
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同名の論文著者
(株)ビー・エム・エル安全性試験部の論文著者
関連著者
関 博
(株)BML、安全性試験部
関 博
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
祖父尼 俊雄
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
荒井 信貴
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
著作論文
P-023 培養細胞を用いる染色体異常試験における回復時間の影響について(パート3,安全・安心のための知的ネットワークの構築:分子生物学的からレギュラトリーサイエンスまで)(ポスターセッション,安全・安心のための知的ネットワークの構築:分子生物学的からレギュラトリーサイエンスまで)
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