P-038 培養細胞に用いる染色体異常試験における回復時間の影響について(パート2)(ポスターセッション)
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概要
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- 2010-10-29
著者
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関 博
(株)BML、安全性試験部
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祖父尼 俊雄
(株)BML、安全性試験部
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高見 聡
株式会社ビー・エム・エル
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関 博
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
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高見 聡
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
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祖父尼 俊雄
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
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