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関 博 | (株)ビー・エム・エル第二検査部安全性試験課
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関 博
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
祖父尼 俊雄
(株)ビー・エム・エル安全性試験部
奈良部 安
(株)ビー・エム・エル総合研究所
関 博
(株)ビー・エム・エル第二検査部安全性試験課
著作論文
P-060 培養細胞を用いる染色体異常試験における回復時間の影響について(パート4)(ポスターセッション)
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