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川崎 里子 | 松下電器産業(株)
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関連著者
岡田 健治
半導体MIRAI-ASET
Okada K
Yamaguchi Univ. Yamaguchi Jpn
岡田 健治
松下電器産業(株)
川崎 里子
松下電器産業(株)
著作論文
極薄ゲート酸化膜におけるストレス誘起リーフ電流と絶縁破壊
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