岡沢 武 | NECメモリ事業部

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概要

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• 同名の論文著者
• NECメモリ事業部の論文著者

関連著者

• 横沢 亜由美

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 白井 浩樹

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 白井 浩樹

  Necエレクトロニクス株式会社

• 岡沢 武

  NECメモリ事業部

著作論文

• トンネル酸化膜中電荷トラップによるフラッシュメモリ特性劣化のシミュレーション

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