黒瀬 朋紀 | 東京工業大学 大学院総合理工学研究科 物理電子システム創造専攻
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概要
関連著者
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大見 俊一郎
東京工業大学
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黒瀬 朋紀
東京工業大学大学院総合理工学研究科
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佐藤 雅樹
東京工業大学大学院総合理工学研究科
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大見 俊一郎
東京工業大学・総合理工学研究科
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佐藤 雅樹
東京工業大学大学院総合理工学研究科物理電子システム創造専攻
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大見 俊一郎
東京工業大学大学院総合理工学研究科
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黒瀬 朋紀
東京工業大学 大学院総合理工学研究科 物理電子システム創造専攻
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大見 俊一郎
東京工業大学総合理工学研究科
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内川 偉史
東京工業大学大学院総合理工学研究科
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内川 偉史
東京工業大学 大学院総合理工学研究科
著作論文
- HfNのECR Ar/O_2プラズマ酸化プロセスによる極薄HfSiONの形成(プロセスクリーン化と新プロセス技術)
- ECR-Ar/N_2プラズマにより形成したHfON膜の極薄膜化に関する検討(プロセスクリーン化と新プロセス技術)
- ECR Ar/N_2プラズマ窒化による高誘電率HfO_xN_y薄膜の形成(Advanced ULSI Technology, 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))
- HfNのECRプラズマ酸化によるHfON薄膜の形成(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- ECR Ar/N_2プラズマ窒化による高誘電率HfO_xN_y薄膜の形成(Advanced ULSI Technology, 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))