奥山 幸祐 | (株)日立製作所半導体グループ

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概要

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関連著者

• 奥山 幸祐

  (株)日立製作所半導体グループ

• 石田 浩

  セイコーエプソン株式会社ビジネスシステム事業部

• 清水 昭博

  日立超LSIシステムズ

• 石田 浩

  日立超lsiエンジニアリング株式会社

• 大木 長斗司

  日立超LSIエンジニアリング

• 小池 淳義

  日立製作所

• 山中 俊明

  (株)日立製作所中央研究所

• 菊島 健一

  (株)日立製作所デバイス開発センタ

• 奥山 幸祐

  (株)日立製作所半導体事業部

• 久保田 勝彦

  (株)日立製作所半導体事業部

• 山中 俊明

  日立 中研

• 久保田 勝彦

  日立

• 小池 淳義

  (株)日立製作所

• 大木 長斗司

  日立超lsiエンジニアリング株式会社

• 山中 俊明

  日立製作所中央研究所

• 真野 純一

  (株)日立超lsiシステムズ

• 小池 淳義

  (株)日立製作所半導体事業部

• 菊島 健一

  日立製作所デバイス開発センタ

• 奥山 幸祐

  日立製作所半導体事業部プロセス開発部

• 久保田 勝彦

  日立製作所半導体事業部プロセス開発部

• 久保田 勝彦

  (株)日立製作所半導体事業本部半導体技術開発本部

• 常野 克己

  (株)日立製作所半導体グループ

• 井瀬 潔

  (株)日立製作所半導体グループ

• 石塚 裕康

  (株)日立超LSIシステムズ

• 久保田 勝彦

  (株)日立製作所 半導体事業本部 半導体技術開発本部

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著作論文

• ディープサブミクロンCMOSFET設計における高温RTAのインパクト(ディープサブミクロンMOSトランジスタ技術小特集)
• 超微細CMOSFET設計における高温RTAのインパクト
• 回路シミュレーションによる入力保護回路のESD耐性予測(集積エレクトロニクス)

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