野津山 泰幸 | (株)東芝セミコンダクター社システムlsi事業部システムlsi設計技術統括部
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概要
関連著者
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野津山 泰幸
(株)東芝セミコンダクター社システムlsi事業部システムlsi設計技術統括部
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- mAオーダーIddqテスト手法開発と製品適用結果(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
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- レイアウト情報を反映するテスト品質評価・向上手法 : 基本的手法と適用例(ブリッジ故障対応Iddqテスト、重み付き縮退故障検出率)
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