本田 憲之 | 東芝マイクロエレクトロニクス(株)CAD部CAD技術開発担当
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概要
関連著者
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山口 則子
東芝マイクロエレクトロニクス(株)cad部cad技術開発担当
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野津山 泰幸
(株)東芝セミコンダクター社システムlsi事業部システムlsi設計技術統括部
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中西 謙友
東芝マイクロエレクトロニクス(株)評価システム開発部
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本田 憲之
東芝マイクロエレクトロニクス(株)CAD部CAD技術開発担当
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野津山 泰幸
(株)東芝セミコンダクター社システムLSI設計技術統括部システムLSIテスト技術担当
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山口 則子
東芝マイクロエレクトロニクス(株)評価システム開発部CAT開発担当
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中西 謙友
東芝マイクロエレクトロニクス(株)CAD部CAD技術開発担当
著作論文
- レイアウト情報を反映するテスト品質評価・向上手法 : 基本的手法と適用例(ブリッジ故障対応Iddqテスト、重み付き縮退故障検出率)
- レイアウト情報を反映するテスト品質評価・向上手法 : 基本的手法と適用例(ブリッジ故障対応Iddqテスト、重み付き縮退故障検出率)