野津山 泰幸 | (株)東芝セミコンダクター社システムLSI設計技術統括部システムLSIテスト技術担当

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概要

• 同名の論文著者
• (株)東芝セミコンダクター社システムLSI設計技術統括部システムLSIテスト技術担当の論文著者

関連著者

• 山口 則子

  東芝マイクロエレクトロニクス(株)cad部cad技術開発担当

• 野津山 泰幸

  (株)東芝セミコンダクター社システムlsi事業部システムlsi設計技術統括部

• 中西 謙友

  東芝マイクロエレクトロニクス(株)評価システム開発部

• 本田 憲之

  東芝マイクロエレクトロニクス(株)CAD部CAD技術開発担当

• 野津山 泰幸

  (株)東芝セミコンダクター社システムLSI設計技術統括部システムLSIテスト技術担当

• 山口 則子

  東芝マイクロエレクトロニクス(株)評価システム開発部CAT開発担当

著作論文

• レイアウト情報を反映するテスト品質評価・向上手法 : 基本的手法と適用例(ブリッジ故障対応Iddqテスト、重み付き縮退故障検出率)

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