吉田 俊幸 | 北海道大学 工学研究科電子情報工学専攻
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
橋詰 保
北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター
-
長谷川 英機
北海道大学
-
吉田 俊幸
北海道大学 工学研究科電子情報工学専攻
-
橋詰 保
北海道大学 情報科学研究科 量子集積エレクトロニクス研究センター
-
長谷川 英機
北海道大学工学研究科、量子界面エレクトロニクス研究センター及び集積電子デバイス工学分野
-
赤澤 正道
北海道大学
-
庄子 亮平
北海道大学工学研究科電子情報工学専攻
-
赤澤 正道
北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター
-
Akazawa M
Hokkaido Univ. Sapporo Jpn
-
Akazawa Masamichi
Graduate School Of Engineering Hokkaido University
-
Akazawa Masamichi
Department Of Electrical Engineering Faculty Of Engineering And Research Center For Interface Quantu
-
Akazawa Masamichi
Department Of Electrical Engineering Hokkaido University
-
Akazawa Masamichi
Research Center For Interface Quantum Electronics And Department Of Electrical Engineering Hokkaido
-
庄子 亮平
北海道大学 工学研究科電子情報工学専攻
-
赤澤 正道
北海道大学情報科学研究科量子集積エレクトロニクス研究センター
-
坂井 高正
大日本スクリーン製造(株)
著作論文
- n-Si(001)上に形成した極薄絶縁膜/Si界面の超高真空対応非接触C-V法による評価
- n-Si(001)上に形成した極薄絶縁膜/Si界面の超高真空対応非接触C-V法による評価
- 超高真空対応非接触容量-電圧法による水素終端Si表面の評価