国府田 晃 | 東京理科大学
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概要
関連著者
著作論文
- 標本分散の期待値・分散 : 有限母集団から抽出される標本分散の分布(第1報)
- ロットの最小値を保証する抜取検査 : 品質特性の分布が二母数指数分布の場合
- ロットの最小値を保証する抜取検査 : 品質特性の分布が指数分布の場合
- 欠点数の観測に誤差のある場合の観測値モデルとその応用
- 複数の検査特性をもつ製品の多回全数選別
- J-モデルを用いた多段全数選別
- 非正規型分布に基づく計量抜取検査方式の簡便計算法
- 非正規型分布に基づく抜取検査方式の簡便計算法
- 組合せ特性を保証するための構成部品の検査・選別法(I) : 部品特性値の分布のパラメータが既知で, 部品特性値の'和'を保証する場合
- 計量全数選別における測定誤差と選別基準(片側規格の場合)
- 計量抜取検査における非正規性の影響(σ-未知の場合)
- 計量抜取検査における非正規性の影響 : σ-既知の場合
- 計量抜取り検査における非正規性の影響 : σ-既知の場合
- 非正規型分布の平均値の検定