阿藤 康郎 | 名古屋工業技術試験所
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概要
関連著者
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阿藤 康郎
名古屋工業技術試験所
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宮川 佳子
産業技術総合研究所中部センター基礎素材研究部門
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宮川 草児
名工試
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宮川 草児
名古屋工業技術試験所
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阿藤 康郎
名工試
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宮川 草児
名古屋工業技術研究所
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宮川 佳子
名古屋工業技術研究所
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宮川 草児
(独)産業技術総合研究所サステナブルマテリアル研究部門
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丹羽 博昭
名工試
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丹羽 博昭
名古屋工業技術研究所
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斎藤 和雄
名古屋工業技術研究所
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鈴木 憲司
名工試
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斉藤 和雄
名古屋工業技術試験所
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湊 進
名工試
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田口 昭
名古屋工業技術試験所
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藤村 亮一郎
名工試
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斉藤 和雄
名古屋工技試
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守屋 佳子
名工大試
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阿藤 康郎
名工大試
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宮川 草児
名工大試
著作論文
- 23p-N-9 イオン照射によってスパッターされた粒子のエネルギー分布
- ファインセラミック原料粉体のPIXE分析
- 3a-H-7 800KV陽子によるルビーの発光
- 炭化ケイ素へのヘリウムイオン注入-2-飛程分布形状が表面損傷に及ぼす影響
- α,β線用シンチレ-タの開発--蛍光体のシンチレ-ションと光発光の比較
- トリガ-パルスとして241Am線源を用いた簡単な飛行時間質量分析計
- トリガ-パルスとして241Am線源を用いた簡単な飛行時間質量分析計
- 核融合炉第一壁材としてのボロン膜のスパッタ率測定
- 重イオンによる内殻電離確率の衝突径数依存性-1-陽子によるK殻電離確率
- 10p-T-6 陽子による内殻励起微分断面積の測定
- 3p-B-7 NaCl単結晶のスパッタリングに及ぼすチャネリングの影響
- 3a-P-1 イオン結晶における低エネルギー・チャネリング効果
- 炭化ケイ素へのヘリウムイオン注入-1-トラッピングとガス再放出特性
- ガス放出を利用したHeのNi中での飛程分布測定(速報) (第25回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス--昭和59年10月29日〜31日)
- 固体表面に打ち込んだイオンビ-ムの電算機シミュレ-ション-2-He→Nbの投影飛程分布に関するSASAMALの計算結果と解析値及び実測値との比較
- 固体表面に打ち込んだイオンビ-ムの電算機シミュレ-ション-1-液体モデルを用いたシミュレ-ションプログラムSASAMAL
- He照射したSiC/graphiteの表面損傷 (「低Zコ-ティング膜のキャラクタライゼ-ションワ-クショップ」「プラズマ・壁相互作用に関する研究会」報告) -- (low Z材料の特性と開発)
- エネルギー分布を持つHeイオン照射したSiCの表面損傷
- H2+及びHe+照射による炭化けい素の表面損傷
- サ-モルミネセンス法による陶磁器の年代測定の可能性
- 軽イオン照射によるSiCの表面観察
- 後方散乱法によってAr+とO2+で照射された銅と金膜のスパッタリング収率の測定
- 荷電粒子線照射温圧制御装置
- プリドーズによるCVD-SiCのブリスタ抑制効果
- ガス放出を利用したHeのNi中での飛程分布測定(速報) (第25回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス--昭和59年10月29日〜31日)