SARRABAYROUSE Gerard | LAAS-CNRS
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概要
関連著者
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SARRABAYROUSE Gerard
LAAS-CNRS
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BOUSCAYROL Laurent
LAAS-CNRS ; Universite de Toulouse
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SCHEID Emmanuel
LAAS-CNRS
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Martinez A
Lab. D'analyse Et D'architecture Des Systemes(laas/cnrs) Toulouse Fra
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Peyre-lavigne Andre
Motorola
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Sarrabayrouse G
Lab. Analyse Et D'architecture Des Systemes Upr Cnrs 8001 Toulouse Fra
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LAPORTE Angeline
LAAS-CNRS
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BENAMARA Mourad
CEMES-CNRS
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CLAVERIE Alain
CEMES-CNRS
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ROCHER Andre
CEMES-CNRS
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YAHIA MESSAOUD
LAAS
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SCHEID Emmanuel
CNRS.
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CLAVERIE Alain
CNRS.
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MARTINEZ Augustin
LAAS
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Claverie A
Cemes Cnrs Toulouse Fra
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Laporte Angeline
Laas-cnrs:motorola:(present Address) Sgs-thomson Microelectronics
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BIELLE-DASPET Danielle
LAAS-CNRS
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Arguel Philippe
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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Sarrabayrouse Gerard
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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Lecerf Pascal
LAAS-CNRS
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Franc Bernard
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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Bouscayrol Laurent
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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Koukos Konstantinos
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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Bedel-Pereira Elena
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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Gauthier-Lafaye Olivier
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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Bonnefont Sophie
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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Lozes-Dupuy Françoise
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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Gauthier-Lafaye Olivier
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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Koukos Konstantinos
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
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SARRABAYROUSE Gerard
LAAS
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Bonnefont Sophie
LAAS-CNRS, Université de Toulouse, 7 avenue du colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex 4, France
著作論文
- Charged Defects at the Interface between Directly Bonded Silicon Wafers
- A Comprehensive Study of Thin Rapid Thermal Oxide Films
- Effect of Annealing Conditions on Photoluminescence Properties of Low-Pressure Chemical Vapour Deposition-Grown Silicon Nanocrystals
- Recombination Activity in Directly Bonded High Resistivity Silicon Wafers Measured by the Photoconductance Decay Method