伊藤 登史政 | デンソー(株)
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概要
関連著者
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伊藤 登史政
デンソー(株)
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秋庭 義明
名古屋大学工学研究科
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田中 啓介
名古屋大学工学研究科
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秋庭 義明
名古屋大学大学院工学研究科
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田中 啓介
名古屋大学
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秋庭 義明
名古屋大学
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石井 高博
いすゞ自動車(株)藤沢工場
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伊藤 登史政
名古屋大学大学院
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田中 啓介
名城大学理工学部
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太田 裕之
(株)日立製作所
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伊藤 登史政
(株)デンソー
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秋庭 義明
名大工
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田中 啓介
名大工
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太田 裕之
日立機械研究所
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伊藤 登史政
名大院
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石井 高博
名大院
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河合 雅典
新日鉄(株)
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河合 雅典
名古屋大学
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三木 靖浩
奈良県工業技術センター
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井上 馨
(株)東芝
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宮川 進
デンソー
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石井 高博
名古屋大学第2外科
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三木 靖浩
奈良工業技術センター
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浅井 洋光
デンソー
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大河内 一貴
デンソー
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宮川 進
(株)デンソー材料技術部
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石井 高博
名古屋大学医学部第2外科
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三木 靖浩
奈良県工技セ
著作論文
- 熱サイクルを受けた多結晶Cu薄膜の残留応力と微視的損傷
- 熱サイクルを受ける銅薄膜中の内部応力の放射光によるその場測定(X線材料強度)
- CVD 法で被覆した TiC 膜の残留応力と強度評価に関する X 線的研究(X 線材料強度)
- 228 硬質薄膜の強度特性に関する X 線的研究
- 310 繊維配向したTiN薄膜の破壊強度に及ぼす膜厚の影響(材料力学-機能材料)
- 401 繊維配向した TiN 薄膜の力学特性の X 線的研究
- 121 繊維配向した立方晶多結晶薄膜の X 線残留応力測定
- プリント基板金属配線部の残留応力の非破壊測定(S06-3 放射光応力評価の実用化,S06 放射光による応力測定と残留応力評価)
- 繊維配向したTiN薄膜中の残留応力の低角入射X線法および散乱ベクトル法による測定(X線材料強度)
- 焼結アルミナのX線的弾性定数に及ぼす気孔の影響に関するマイクロメカニックスによる解析