Kim Eun-ha | R&d Center Lg Siltron Inc.

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概要

• 同名の論文著者
• R&d Center Lg Siltron Inc.の論文著者

関連著者

• Kim Young-hun

  R & D Center Lg Siltron Inc.

• Yoo H‐d

  R&d Center Lg Siltron Inc.

• Lee K‐s

  Lg Siltron Inc. Kyungbuk Kor

• Lee Bo-young

  R&d Center Lg Siltron Inc.

• Kim Y‐h

  R & D Center Lg Siltron Inc.

• LEE Ki-Sang

  R&D Center, LG Siltron Inc.

• KIM Eun-Ha

  R&D Center, LG Siltron Inc.

• KIM Young-Hun

  R&D Center, LG Siltron Inc.

• LEE Bo-Young

  R&D Center, LG Siltron Inc.

• Yoo Hak-Do

  R&D Center, LG Siltron Inc.

• Kim Eun-ha

  R&d Center Lg Siltron Inc.

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著作論文

• Effects of Surface Roughness and Copper Contamination on the Oxide Breakdown of Silicon Wafer(Semiconductors)

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