深谷 有喜 | 横浜市立大学大学院総合理学研究科

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著作論文

• 高温領域におけるSi(111)表面の構造変化 : 反射型高速電子線回折(RHEED)による研究
• 30aXE-5 擬似1次元収束ビームによるRHEEDロッキングカーブの高速測定
• 28pTA-4 高温Si(111)1×1表面における表面原子の熱振動の異常増大
• 磁場による視射角偏向機能を備えた反射型高速電子線回折(RHEED)装置の試作と動的構造変化への応用
• 23aT-4 Si(111)7×7-1×1相転移温度以上の表面構造変化
• 30p-S-7 Si/Si(111)-7×7の初期成長に見られる層構造の安定性
• 28p-YM-4 Si(111)-7×7表面上のホモエピタキシャル成長中の構造変化
• 25pWB-9 Si(111)7×7-1×1相転移温度以上の表面構造変化(II)

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