岡田 安正 | 電試田無

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概要

• 同名の論文著者
• 電試田無の論文著者

関連著者

• 菊池 誠

  電試田無

• 岡田 安正

  電試田無

• 飯塚 隆

  電試田無

• 菊池 誠

  電綜研田無

• 金崎 賢治

  国際電気

• 飯田 隆

  電試田無

著作論文

• シリコン中での転位上昇運動のX線観察 : 格子欠陥
• シリコンのindentationによって生じた欠陥の異方性 : 格子欠陥
• シリコン中の機械的損傷による歪み分布のX線観察 : X線粒子線
• 4a-P-4 高不純物濃度Si中の介在物
• シリコンの表面損傷によって生じた欠陥 : 格子欠陥
• 9a-M-13 シリコン表面の引っかきにより生じた欠陥
• シリコン中の転位ループの発生(半導体(拡散,エピタキシー)
• シリコン中のニッケルの析出(半導体(拡散,エピタキシー)
• Indentationにより生じたSi中の欠陥 : 格子欠陥

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