MINOTTI Patrice | Institut des Microtechniques de Franche Comte, Laboratoire de Mecanique Appliquee, Universite de Fra
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概要
- 同名の論文著者
- Institut des Microtechniques de Franche Comte, Laboratoire de Mecanique Appliquee, Universite de Fraの論文著者
関連著者
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Moal Patrice
Laboratoire De Mecanique Appliquee R. Chaleat(lmarc):institut Des Microtechniques De Franche-comte
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Le Moai
Institut Des Microtechniques De Franche Comte Laboratoire De Mecanique Appliquee Universite De Franc
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Minotti P
Univ. Franche Comte Besancon Fra
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Joseph Eric
Laboratoire De Mecanique Appliquee R. Chaleat(lmarc):institut Des Microtechniques De Franche-comte
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Bourbon G
Univ. Franche Comte Besancon Fra
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Bourbon Gilles
Laboratoire De Mecanique Appliquee R. Chaleat(lmarc):institut Des Microtechniques De Franche-comte
-
MINOTTI Patrice
Institut des Microtechniques de Franche Comte, Laboratoire de Mecanique Appliquee, Universite de Fra
-
JOSEPH Eric
Institut des Microtechniques de Franche Comte, Laboratoire de Mecanique Appliquee, Universite de Fra
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BOURBON Gilles
Institut des Microtechniques de Franche Comte, Laboratoire de Mecanique Appliquee, Universite de Fra
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LE MOAL
Institut des Microtechniques de Franche Comte, Laboratoire de Mecanique Appliquee, Universite de Fra
-
Le Moal
Institut des Microtechniques de Franche Comte, Laboratoire de Mecanique Appliquee
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WALTER Vincent
Institut des Microtechniques de Franche Comte, Laboratoire de Mecanique Appliquee, Universite de Fra
-
MOAL Patrice
Institut des Microtechniques de Franche Comte, Laboratoire de Mecanique Applique, Universiti de Fran
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Walter Vincent
Institut Des Microtechniques De Franche Comte Laboratoire De Mecanique Appliquee Universite De Franc
著作論文
- Investigation of Output Mechanical Power Limits on High-Torque Electrostatic Actuators Using High-Frequency Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) Camera Combined With Image Processing Software : Semiconductors
- On-Chip Investigation of Torque/Speed Characteristics on New High-Torque Micrometer-Size Polysilicon Electrostatic Actuators : Semiconductors
- Toward Standard Method for Microelectromechanical Systems Material Measurement through On-Chip Electrostatic Probing of Micrometer Size Polysilicon Tensile Specimens : Surfaces, Interfaces, and Films