大田 昌弘 | 広島大学理学部物理学科
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概要
関連著者
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大田 昌弘
広島大学理学部物理学科
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SFI Physics Department, The University of Dublin, Trinity College
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上山 仁司
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広島大理
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アトムテクノロジー研究体
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大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
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阪大フロンティア研究機構
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大阪大学 ; 大学院工学研究科電子工学
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菅原 康弘
大阪大学 ; 大学院工学研究科応用物理学
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機械技術研究所
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NTTアドバンステクノロジ
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住友シチックス
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住友シチックス
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岡田 孝夫
オリンパス光学
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柳瀬 好生
住友シチックス
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内橋 貴之
広大理
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大河内 俊介
光技研
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鈴木 峠晴
NTT
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本谷 浩二
広大理
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逢坂 福信
光技研
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上原 靖弘
広大理
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鈴木 峰晴
NTT-AT 分析センタ
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藤沢 悟
広島大学理学部物理学科
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上山 仁司
大阪大学大学院工学研究科電子工学専攻
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大田 昌弘
大阪大学
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阿部 真之
広島大理
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大阪大学 大学院 工学研究科
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森田 清三
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岡田 孝夫
オリンパス
著作論文
- 3p-K-6 非接触モードAFMによるSi(111)7×7再構成表面の原子分解能観察
- 29p-PSB-12 非接触モードUHV-AFMによるNaF(100)劈開表面の原子分解能観察
- 29p-PSB-1 非接触モード超高真空原子間力顕微鏡によるInP(110)劈開面の格子欠陥の観察
- 28a-J-9 超高真空原子間力顕微鏡によるII-VI族化合物半導体劈開面の格子像観察
- 2a-R-9 超高真空原子間力顕微鏡によるInP(100)劈開表面の格子像観察
- 31a-WB-5 超高真空原子問力顕微鏡によるGaAs(110)劈開表面の格子像観察
- 摩擦力顕微鏡 -ミクロな摩擦力の解釈-
- 非接触モード原子間力顕微鏡の新展開
- 非接触モードAFMにおける力勾配-距離曲線の解析 II
- 非接触モードAFMによるファンデルワールスカのミクロなモデルの検証
- 31p-PSB-9 非接触モードAFMにおける力勾配-距離曲線の解析
- 2p-S-2 原子間力顕微鏡によるエバネッセント場の検出
- 非接触モード超高真空原子間力顕微鏡による化合物半導体表面の原子分解能観察
- 超高真空原子間力顕微鏡による化合物半導体へき開面の接触および非接触原子分解能観察
- 30p-ZF-3 原子間力顕微鏡による真空中測定
- 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (3)
- 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (2)
- 大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? : 試作と像解釈のノウハウ (1)
- 超高真空原子間力顕微鏡によるGaAs(110)劈開面の観察