内橋 貴之 | SFI Physics Department, The University of Dublin, Trinity College
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概要
関連著者
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内橋 貴之
SFI Physics Department, The University of Dublin, Trinity College
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内橋 貴之
アトムテクノロジー研究体
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菅原 康弘
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
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上山 仁司
阪大工
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Sugawara Yasuhiro
Department Of Physics Faculty Of Science Hiroshima University
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森田 清三
阪大工学部
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菅原 康弘
阪大工
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鈴木 峰晴
Nttアドバンステクノロジー
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大田 昌弘
広島大学理学部物理学科
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森田 清三
大阪大学大学院工学研究科
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阿部 真之
阪大フロンティア研究機構
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内橋 貴之
阪大工
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塚本 貴広
阪大工
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重松 達彦
住友シチックス
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柳瀬 好生
住友シチックス
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阿部 真之
大阪大学 大学院 工学研究科
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鈴木 峰晴
NTTアドバンステクノロジ
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柳瀬 好夫
住友シチックス
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Sugawara Y
Department Of Applied Physics Graduate School Of Engineering Osaka University
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Sugawara Yasuhiro
Department Of Electronic Engineering Faculty Of Engineering Osaka University
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内橋 貴之
広島大理
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菅原 康弘
広大理
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内橋 貴之
広大理
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森田 清三
広大理
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大麻 隆彦
住友金属工業(株)未来技術研究所
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芦野 慎
JRCAT-ATP
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横山 康祐
阪大工学部
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石川 満
アトムテクノロジー研究体
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阿部 真之
阪大工
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山西 良樹
東京エンクトロンAT株式会社関西テクノロジーセンター
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大麻 隆彦
東京エンクトロンAT株式会社関西テクノロジーセンター
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山西 良樹
住友金属工業
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三島 周三
オリンパス光学
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鈴木 峰晴
NTT境界領域研究所
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菅原 康弘
広島大理
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森田 清三
広島大理
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簑部 哲也
阪大工
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大田 昌弘
広島大理
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上山 仁司
広島大理
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深野 善信
広大理
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奥迫 隆博
広大理
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上山 仁司
大阪大学大学院工学研究科電子工学専攻
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三島 周三
オリンパス光学(株)
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三島 周三
オリンパス(株)
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菅原 康弘
大阪大学大学院工学研究科
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三島 周三
オリンパス
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岡田 孝夫
アトムテクノロジー研究体
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菅原 康弘
阪大院工
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岡本 憲二
大阪大学低温センター
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森田 清三
大阪大学 ; 大学院工学研究科電子工学
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菅原 康弘
大阪大学 ; 大学院工学研究科応用物理学
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森田 清三
阪大院
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石川 満
JRCAT-ATP
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内橋 貴之
JRCAT-ATP
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横山 康祐
阪大院
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芦野 慎
アトムテクノロジー研究体
-
谷川 雅人
アトムテクノロジー研究体
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菅原 康弘
アトムテクノロジー研究体
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蓑部 哲也
阪大工
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折坂 茂樹
阪大工
-
中尾 良純
阪大工
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Sugawara Yasuhiro
Department Of Electronic Engineering Graduate School Of Engineering Osaka University
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大田 昌弘
広大理
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上山 仁司
広大理
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露口 猛
広大理
-
茶谷原 あゆみ
広大理
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内橋 貴之
大阪大学大学院工学研究科電子工学専攻
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塚本 貴広
大阪大学大学院工学研究科電子工学専攻
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大田 昌弘
大阪大学
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内橋 貴之
広島大学
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大田 昌弘
阪大工
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阿部 真之
広島大理
-
内橋 貴之
Sfi Physics Department The University Of Dublin Trinity College
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岡本 憲二
京大院・理化
-
Mishima Syuzo
Research Department Olympus Optical Co. Ltd.
-
森田 清三
大阪大学
著作論文
- 原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察
- 27aY-8 欠陥を含むTIO_2(110)-1x2再構成表面構造のSTM、および、NC-AFMによる観察
- WS07 非接触原子間力顕微鏡によるDNA観察 (原子間力顕微鏡 (AFM) : 成果・問題・展望)
- 30a-YF-6 非接触モードAFMによるSi(111)√×√-Ag構造の観察
- 30a-YF-4 GaAs(110)劈開表面の点欠陥の静電気力顕微鏡による観察
- 6p-B-10 Si(111)7×7再構成表面における非接触AFM測定での探針-試料間相互作用の研究
- 3p-K-6 非接触モードAFMによるSi(111)7×7再構成表面の原子分解能観察
- 29p-PSB-12 非接触モードUHV-AFMによるNaF(100)劈開表面の原子分解能観察
- 2a-YF-1 シリコン酸化膜表面に接触帯電した電荷の散逸過程の研究
- 28p-C-8 シリコン酸化膜表面に接触帯電した電荷の散逸過程の研究
- 8p-B-6 静電気力顕微鏡によるGaAs(110)表面の高分解能観察
- 非接触原子間力顕微鏡による化合物半導体の原子分解能観察
- 非接触モード原子間力顕微鏡の新展開
- 非接触モードAFMによるファンデルワールスカのミクロなモデルの検証
- 2p-S-2 原子間力顕微鏡によるエバネッセント場の検出