大井 孝紀 | 松下寿電子工業株式会社
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概要
関連著者
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藤井 陽一
日本大学理工学部電子工学科
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大塚 由紀子
東京大学生産技術研究所
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大井 孝紀
日本大学理工学部電子情報工学科
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藤井 陽一
日本大学理学部
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藤井 陽一
東大生産研
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大井 孝紀
松下寿電子工業株式会社
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Fujii Yoshikazu
Department Of Engineering Science Kyoto University
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Fujii Yoshiko
Department Of Applied Physics Faculty Of Science Okayama University Of Science
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藤井 陽一
日本大学 理工学部電子情報工学科
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Fujii Y
Neutron Scottering Laboratory Issp University Of Tokyo
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FUJII Yutaka
Department of Applied Physics, Faculty of Engineering, Fukui University
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Fujii Y
Institute For Solid State Physics The University Of Tokyo
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Fujii Y
Department Of Applied Physics Faculty Of Engineering Fukui University
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池田 明
日本大学理工学部電子情報工学科
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中山 和彦
FDK株式会社
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Fujii Y
Neutron Facility Issp The University Of Tokyo
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佐藤 菜穂子
日本大学理工学部電子情報工学科
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中山 和彦
日本大学理工学部電子工学科
著作論文
- B-13-27 赤外波長光源を用いたニオブ酸リチウム光導波路の光損傷測定(B-13. 光ファイバ応用技術)
- MgO ドーププロトン交換 LN 光導波路の光損傷における温度及び電界特性の検討
- B-13-11 MgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷における温度及び電界特性の検討(B-13. 光ファイバ応用技術, 通信2)
- 赤外波長光源を用いたMgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷測定
- 赤外波長光源を用いたMgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷測定(フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,集積光回路,半導体光導波路素子,PLC,ファイバ型デバイス,導波路解析,その他)
- 赤外波長光源を用いたMgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷測定(フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,集積光回路,半導体光導波路素子,PLC,ファイバ型デバイス,導波路解析,その他)
- 赤外波長光源を用いたMgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷測定(フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,集積光回路,半導体光導波路素子,PLC,ファイバ型デバイス,導波路解析,その他)
- 赤外波長光源を用いたMgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷測定(フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,集積光回路,半導体光導波路素子,PLC,ファイバ型デバイス,導波路解析,その他)
- MgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷における温度特性の検討(センサ,一般)
- MgOドーププロトン交換LN光導波路のフォトリフラクティブ効果
- B-13-6 MgO ドープ LN 上に作製したプトロン層のフォトリフラクティブ効果に対するアニールの影響