西村 安正 | 三菱電機

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概要

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• 三菱電機の論文著者

関連著者

• 西村 安正

  三菱電機

• 栗山 祐忠

  三菱電機LSI研究所

• 栗山 祐忠

  三菱電機株式会社 知的財産センター

• 大林 茂樹

  三菱電機(株) メモリ事業統括部

• 牧 幸生

  三菱電機(株) メモリ事業統括部

• 本田 裕己

  三菱電機(株) メモリ事業統括部

• 早坂 隆

  三菱電機(株) メモリ事業統括部

• 村上 修二

  三菱電機lsi研究所

• 細金 明

  三菱電機株式会社ULSI開発研究所

• 栗山 祐忠

  三菱電機株式会社 知的財産権センター

• 穴見 健治

  三菱電機北伊丹製作所

• 広瀬 愛彦

  三菱電機

• 藤野 良幸

  三菱電機

• 石垣 佳之

  三菱電機

• 早坂 隆

  三菱電機

• 浮田 求

  三菱電機LSI研究所

• 山形 整人

  三菱電機LSI研究所

• 西村 安正

  三菱電機LSI研究所

• 細金 明

  三菱電機

• 浮田 求

  三菱電機 Ulsi開研

• 杠 幸二郎

  三菱電機 Ulsi開研

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著作論文

• 低電圧動作マージンを拡大した1MビットBiCMOS TTL SRAM
• 超低消費電力SRAM用シングルビット線クロスポイントデコード方式
• VLSIメモリの評価用試験プログラム構造およびその適用
• 高速MOSスタティックRAMのアドレスアクセス時間測定法
• HWD(多階層ワ-ド選択)方式を用い,次世代への展望を拓いた4MビットCMOS SRAMの開発 (大容量・超高速にわいた"半導体のオリンピック"ISSCC′90(国際固体回路会議)にみる最新半導体デバイス技術)
• 高速MOSスタティックRAMのチップセレクトアクセス時間測定法

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