横田 俊彦 | 日本アイビーエム

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概要

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• 日本アイビーエムの論文著者

関連著者

• 横田 俊彦

  日本アイビーエム

• 三好 章夫

  日本アイビーエム株式会社野洲研究所

• 横田 俊彦

  日本アイビーエム株式会社野洲研究所

著作論文

• オンチップPLLを用いたLSSD高速スキャンテストとソースシンクロナスDDRインターフェイスのテストへの応用(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• オンチップPLLを用いたLSSD高速スキャンテストとソースシンクロナスDDRインターフェイスのテストへの応用(高速化/低消費電力化I,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• オンチップPLLを用いたLSSD高速スキャンテストとソースシンクロナスDDRインターフェイスのテストへの応用
• オンチップPLLを用いたLSSD高速スキャンテストとソースシンクロナスDDRインターフェイスのテストへの応用(高速化/低消費電力化I,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• Cell optimization for low power CM0S LSI

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