井上 裕美 | 東芝半導体デバイス技術研究所

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概要

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• 東芝半導体デバイス技術研究所の論文著者

関連著者

• 井上 裕美

  東芝半導体デバイス技術研究所

• 仲澤 勉

  東芝半導体デバイス技術研究所

• 澤田 佳奈子

  東芝半導体デバイス技術研究所

• 須藤 俊夫

  東芝半導体デバイス技術研究所

著作論文

• 表面実装時のパッケージクラック解析 : 内部界面の改善とその強度
• 表面実装時のパッケージクラック解析 : 剥離現象の解明と薄型化による応力の低減

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